ഗ്രാനൈറ്റ് ഘടകം പരന്നത കണ്ടെത്തൽ മൊത്തത്തിലുള്ള ഗൈഡ്

ഗ്രാനൈറ്റ് ഘടകങ്ങൾ കൃത്യതയുള്ള നിർമ്മാണ മേഖലയിൽ വ്യാപകമായി ഉപയോഗിക്കപ്പെടുന്നു, ഒരു പ്രധാന സൂചികയായി പരന്നത, അതിന്റെ പ്രകടനത്തെയും ഉൽപ്പന്ന ഗുണനിലവാരത്തെയും നേരിട്ട് ബാധിക്കുന്നു.ഗ്രാനൈറ്റ് ഘടകങ്ങളുടെ പരന്നത കണ്ടെത്തുന്നതിനുള്ള രീതി, ഉപകരണങ്ങൾ, പ്രക്രിയ എന്നിവയെക്കുറിച്ചുള്ള വിശദമായ ആമുഖം താഴെ കൊടുക്കുന്നു.
I. കണ്ടെത്തൽ രീതികൾ
1. ഫ്ലാറ്റ് ക്രിസ്റ്റൽ ഇടപെടൽ രീതി: ഒപ്റ്റിക്കൽ ഇൻസ്ട്രുമെന്റ് ബേസ്, അൾട്രാ-പ്രിസിഷൻ മെഷർമെന്റ് പ്ലാറ്റ്‌ഫോം തുടങ്ങിയ ഉയർന്ന കൃത്യതയുള്ള ഗ്രാനൈറ്റ് ഘടകം ഫ്ലാറ്റ്‌നെസ് കണ്ടെത്തലിന് അനുയോജ്യം. പ്രകാശ തരംഗ ഇടപെടൽ തത്വം ഉപയോഗിച്ച്, ഫ്ലാറ്റ് ക്രിസ്റ്റൽ (വളരെ ഉയർന്ന ഫ്ലാറ്റ്‌നെസ് ഉള്ള ഒപ്റ്റിക്കൽ ഗ്ലാസ് ഘടകം) ഗ്രാനൈറ്റ് ഘടകവുമായി അടുത്ത് ഘടിപ്പിച്ചിരിക്കുന്നു, പ്രകാശം ഫ്ലാറ്റ് ക്രിസ്റ്റലിലൂടെയും ഗ്രാനൈറ്റ് ഘടകത്തിന്റെ ഉപരിതലത്തിലൂടെയും കടന്നുപോകുമ്പോൾ ഇടപെടൽ വരകൾ രൂപപ്പെടുന്നു. അംഗത്തിന്റെ തലം തികച്ചും പരന്നതാണെങ്കിൽ, ഇടപെടൽ അരികുകൾ തുല്യ അകലമുള്ള സമാന്തര നേർരേഖകളാണ്; തലം കോൺകേവും കോൺവെക്സും ആണെങ്കിൽ, ഫ്രിഞ്ച് വളയുകയും രൂപഭേദം വരുത്തുകയും ചെയ്യും. ഫ്രിഞ്ചുകളുടെ വളയുന്ന അളവും സ്‌പെയ്‌സിംഗും അനുസരിച്ച്, ഫോർമുല ഉപയോഗിച്ച് ഫ്ലാറ്റ്‌നെസ് പിശക് കണക്കാക്കുന്നു. കൃത്യത നാനോമീറ്ററുകൾ വരെയാകാം, ചെറിയ തലം വ്യതിയാനം കൃത്യമായി കണ്ടെത്താനാകും.
2. ഇലക്ട്രോണിക് ലെവൽ അളക്കൽ രീതി: മെഷീൻ ടൂൾ ബെഡ്, വലിയ ഗാൻട്രി പ്രോസസ്സിംഗ് പ്ലാറ്റ്‌ഫോം തുടങ്ങിയ വലിയ ഗ്രാനൈറ്റ് ഘടകങ്ങളിൽ പലപ്പോഴും ഉപയോഗിക്കുന്നു. അളക്കൽ പോയിന്റ് തിരഞ്ഞെടുക്കുന്നതിനും നിർദ്ദിഷ്ട അളക്കൽ പാതയിലൂടെ നീങ്ങുന്നതിനും ഗ്രാനൈറ്റ് ഘടകത്തിന്റെ ഉപരിതലത്തിൽ ഇലക്ട്രോണിക് ലെവൽ സ്ഥാപിച്ചിരിക്കുന്നു. ഇലക്ട്രോണിക് ലെവൽ ആന്തരിക സെൻസർ വഴി തനിക്കും ഗുരുത്വാകർഷണ ദിശയ്ക്കും ഇടയിലുള്ള കോണിന്റെ മാറ്റം തത്സമയം അളക്കുകയും അതിനെ ലെവൽനെസ് ഡീവിയേഷൻ ഡാറ്റയാക്കി മാറ്റുകയും ചെയ്യുന്നു. അളക്കുമ്പോൾ, ഒരു അളക്കൽ ഗ്രിഡ് നിർമ്മിക്കേണ്ടത് ആവശ്യമാണ്, X, Y ദിശകളിൽ ഒരു നിശ്ചിത അകലത്തിൽ അളക്കൽ പോയിന്റുകൾ തിരഞ്ഞെടുത്ത് ഓരോ പോയിന്റിന്റെയും ഡാറ്റ രേഖപ്പെടുത്തുക. ഡാറ്റ പ്രോസസ്സിംഗ് സോഫ്റ്റ്‌വെയറിന്റെ വിശകലനത്തിലൂടെ, ഗ്രാനൈറ്റ് ഘടകങ്ങളുടെ ഉപരിതല പരന്നത ഘടിപ്പിക്കാൻ കഴിയും, കൂടാതെ അളവെടുപ്പ് കൃത്യത മൈക്രോൺ ലെവലിൽ എത്താൻ കഴിയും, ഇത് മിക്ക വ്യാവസായിക രംഗങ്ങളിലും വലിയ തോതിലുള്ള ഘടക പരന്നത കണ്ടെത്തലിന്റെ ആവശ്യങ്ങൾ നിറവേറ്റും.
3. CMM കണ്ടെത്തൽ രീതി: സങ്കീർണ്ണമായ ആകൃതിയിലുള്ള ഗ്രാനൈറ്റ് ഘടകങ്ങളിൽ സമഗ്രമായ പരന്നതാ കണ്ടെത്തൽ നടത്താം, ഉദാഹരണത്തിന് പ്രത്യേക ആകൃതിയിലുള്ള അച്ചുകൾക്കുള്ള ഗ്രാനൈറ്റ് അടിവസ്ത്രം. CMM പ്രോബിലൂടെ ത്രിമാന സ്ഥലത്ത് നീങ്ങുകയും ഗ്രാനൈറ്റ് ഘടകത്തിന്റെ ഉപരിതലത്തിൽ സ്പർശിക്കുകയും അളക്കൽ പോയിന്റുകളുടെ കോർഡിനേറ്റുകൾ നേടുകയും ചെയ്യുന്നു. അളക്കൽ പോയിന്റുകൾ ഘടക തലത്തിൽ തുല്യമായി വിതരണം ചെയ്യപ്പെടുന്നു, കൂടാതെ അളക്കുന്ന ലാറ്റിസ് നിർമ്മിക്കപ്പെടുന്നു. ഉപകരണം ഓരോ പോയിന്റിന്റെയും കോർഡിനേറ്റ് ഡാറ്റ സ്വയമേവ ശേഖരിക്കുന്നു. പരന്നതാ പിശക് കണക്കാക്കുന്നതിനുള്ള കോർഡിനേറ്റ് ഡാറ്റ അനുസരിച്ച്, പരന്നതാത്വം കണ്ടെത്തുന്നതിന് മാത്രമല്ല, ഘടക വലുപ്പം, ആകൃതി, സ്ഥാന സഹിഷ്ണുത, മറ്റ് ബഹുമുഖ വിവരങ്ങൾ എന്നിവ നേടാനും കഴിയും, ഉപകരണ കൃത്യതയ്ക്കനുസരിച്ച് അളക്കൽ കൃത്യത വ്യത്യസ്തമാണ്, സാധാരണയായി കുറച്ച് മൈക്രോണുകൾ മുതൽ പത്ത് മൈക്രോണുകൾ വരെ, ഉയർന്ന വഴക്കം, വിവിധ തരം ഗ്രാനൈറ്റ് ഘടകം കണ്ടെത്തലിന് അനുയോജ്യമാണ്.
II. പരിശോധനാ ഉപകരണങ്ങൾ തയ്യാറാക്കൽ
1. ഉയർന്ന കൃത്യതയുള്ള ഫ്ലാറ്റ് ക്രിസ്റ്റൽ: ഗ്രാനൈറ്റ് ഘടകങ്ങളുടെ കണ്ടെത്തൽ കൃത്യത ആവശ്യകതകൾക്കനുസൃതമായി അനുബന്ധ പ്രിസിഷൻ ഫ്ലാറ്റ് ക്രിസ്റ്റൽ തിരഞ്ഞെടുക്കുക, ഉദാഹരണത്തിന് നാനോ സ്കെയിൽ ഫ്ലാറ്റ്നെസ് കണ്ടെത്തുന്നതിന്, കുറച്ച് നാനോമീറ്ററുകൾക്കുള്ളിൽ ഫ്ലാറ്റ്നെസ് പിശകുള്ള ഒരു സൂപ്പർ-പ്രിസിഷൻ ഫ്ലാറ്റ് ക്രിസ്റ്റൽ തിരഞ്ഞെടുക്കേണ്ടതുണ്ട്, കൂടാതെ ഫ്ലാറ്റ് ക്രിസ്റ്റൽ വ്യാസം ഗ്രാനൈറ്റ് ഘടകത്തിന്റെ ഏറ്റവും കുറഞ്ഞ വലുപ്പത്തേക്കാൾ അല്പം വലുതായിരിക്കണം, കണ്ടെത്തൽ പ്രദേശത്തിന്റെ പൂർണ്ണമായ കവറേജ് ഉറപ്പാക്കാൻ പരിശോധിക്കണം.

2. ഇലക്ട്രോണിക് ലെവൽ: ഉയർന്ന കൃത്യതയുള്ള കണ്ടെത്തലിന് അനുയോജ്യമായ 0.001mm/m അളവെടുപ്പ് കൃത്യതയുള്ള ഇലക്ട്രോണിക് ലെവൽ പോലുള്ള കണ്ടെത്തൽ ആവശ്യങ്ങൾ നിറവേറ്റുന്ന അളവെടുപ്പ് കൃത്യതയുള്ള ഒരു ഇലക്ട്രോണിക് ലെവൽ തിരഞ്ഞെടുക്കുക. അതേ സമയം, ഗ്രാനൈറ്റ് ഘടകത്തിന്റെ ഉപരിതലത്തിൽ ഇലക്ട്രോണിക് ലെവൽ ദൃഢമായി ആഗിരണം ചെയ്യാൻ സഹായിക്കുന്നതിന് ഒരു പൊരുത്തപ്പെടുന്ന മാഗ്നറ്റിക് ടേബിൾ ബേസ് തയ്യാറാക്കിയിട്ടുണ്ട്, അതുപോലെ തന്നെ ഡാറ്റ അക്വിസിഷൻ കേബിളുകളും കമ്പ്യൂട്ടർ ഡാറ്റ അക്വിസിഷൻ സോഫ്റ്റ്‌വെയറും, അളക്കൽ ഡാറ്റയുടെ തത്സമയ റെക്കോർഡിംഗും പ്രോസസ്സിംഗും നേടുന്നു.

3. കോർഡിനേറ്റ് അളക്കൽ ഉപകരണം: ഗ്രാനൈറ്റ് ഘടകങ്ങളുടെ വലുപ്പത്തിനനുസരിച്ച്, കോർഡിനേറ്റ് അളക്കൽ ഉപകരണത്തിന്റെ ഉചിതമായ വലുപ്പം തിരഞ്ഞെടുക്കുന്നതിന് ആകൃതി സങ്കീർണ്ണത. വലിയ ഘടകങ്ങൾക്ക് വലിയ സ്ട്രോക്ക് ഗേജുകൾ ആവശ്യമാണ്, അതേസമയം സങ്കീർണ്ണമായ ആകൃതികൾക്ക് ഉയർന്ന കൃത്യതയുള്ള പ്രോബുകളും ശക്തമായ അളവെടുക്കൽ സോഫ്റ്റ്‌വെയറും ഉള്ള ഉപകരണങ്ങൾ ആവശ്യമാണ്. കണ്ടെത്തുന്നതിന് മുമ്പ്, പ്രോബ് കൃത്യതയും കോർഡിനേറ്റ് പൊസിഷനിംഗ് കൃത്യതയും ഉറപ്പാക്കാൻ CMM കാലിബ്രേറ്റ് ചെയ്യുന്നു.
III. പരിശോധനാ പ്രക്രിയ
1. ഫ്ലാറ്റ് ക്രിസ്റ്റൽ ഇന്റർഫെറോമെട്രി പ്രക്രിയ:
◦ പരിശോധിക്കേണ്ട ഗ്രാനൈറ്റ് ഘടകങ്ങളുടെ ഉപരിതലവും പരന്ന ക്രിസ്റ്റൽ പ്രതലവും വൃത്തിയാക്കുക, പൊടി, എണ്ണ, മറ്റ് മാലിന്യങ്ങൾ എന്നിവ നീക്കം ചെയ്യുന്നതിനായി അൺഹൈഡ്രസ് എത്തനോൾ ഉപയോഗിച്ച് തുടയ്ക്കുക, രണ്ടും വിടവില്ലാതെ നന്നായി യോജിക്കുന്നുവെന്ന് ഉറപ്പാക്കുക.
ഗ്രാനൈറ്റ് അംഗത്തിന്റെ പ്രതലത്തിൽ പരന്ന ക്രിസ്റ്റൽ സാവധാനം വയ്ക്കുക, കുമിളകളോ ചരിവുകളോ ഒഴിവാക്കാൻ രണ്ടും പൂർണ്ണമായും സമ്പർക്കം പുലർത്തുന്ന തരത്തിൽ ലഘുവായി അമർത്തുക.
◦ ഒരു ഇരുണ്ട മുറിയിലെ പരിതസ്ഥിതിയിൽ, പരന്ന ക്രിസ്റ്റലിനെ ലംബമായി പ്രകാശിപ്പിക്കുന്നതിനും, മുകളിൽ നിന്നുള്ള ഇടപെടൽ ഫ്രിഞ്ചുകൾ നിരീക്ഷിക്കുന്നതിനും, ഫ്രിഞ്ചുകളുടെ ആകൃതി, ദിശ, വക്രതയുടെ അളവ് എന്നിവ രേഖപ്പെടുത്തുന്നതിനും ഒരു മോണോക്രോമാറ്റിക് പ്രകാശ സ്രോതസ്സ് (സോഡിയം ലാമ്പ് പോലുള്ളവ) ഉപയോഗിക്കുന്നു.
◦ ഇടപെടൽ ഫ്രിഞ്ച് ഡാറ്റയെ അടിസ്ഥാനമാക്കി, പ്രസക്തമായ ഫോർമുല ഉപയോഗിച്ച് ഫ്ലാറ്റ്‌നെസ് പിശക് കണക്കാക്കുക, കൂടാതെ അത് യോഗ്യമാണോ എന്ന് നിർണ്ണയിക്കാൻ ഘടകത്തിന്റെ ഫ്ലാറ്റ്‌നെസ് ടോളറൻസ് ആവശ്യകതകളുമായി താരതമ്യം ചെയ്യുക.
2. ഇലക്ട്രോണിക് ലെവൽ അളക്കൽ പ്രക്രിയ:
◦ ഗ്രാനൈറ്റ് ഘടകത്തിന്റെ ഉപരിതലത്തിൽ ഒരു അളക്കൽ ഗ്രിഡ് വരയ്ക്കുകയും അളക്കൽ പോയിന്റിന്റെ സ്ഥാനം നിർണ്ണയിക്കുകയും ചെയ്യുന്നു, കൂടാതെ ഘടകത്തിന്റെ വലുപ്പത്തിനും കൃത്യതയ്ക്കും അനുസൃതമായി അടുത്തുള്ള അളക്കൽ പോയിന്റുകളുടെ അകലം ന്യായമായും സജ്ജീകരിച്ചിരിക്കുന്നു, സാധാരണയായി 50-200 മിമി.
◦ ഒരു മാഗ്നറ്റിക് ടേബിൾ ബേസിൽ ഒരു ഇലക്ട്രോണിക് ലെവൽ ഇൻസ്റ്റാൾ ചെയ്ത് അളക്കൽ ഗ്രിഡിന്റെ ആരംഭ പോയിന്റിൽ ഘടിപ്പിക്കുക. ഡാറ്റ സ്ഥിരത പ്രാപിച്ചതിനുശേഷം ഇലക്ട്രോണിക് ലെവൽ ആരംഭിച്ച് പ്രാരംഭ ലെവൽനെസ് രേഖപ്പെടുത്തുക.
◦ ഇലക്ട്രോണിക് ലെവൽ പോയിന്റ് അളക്കൽ പാതയിലൂടെ ഓരോ പോയിന്റും നീക്കി, എല്ലാ അളക്കൽ പോയിന്റുകളും അളക്കുന്നതുവരെ ഓരോ അളക്കൽ പോയിന്റിലും ലെവൽനെസ് ഡാറ്റ രേഖപ്പെടുത്തുക.
◦ അളന്ന ഡാറ്റ ഡാറ്റ പ്രോസസ്സിംഗ് സോഫ്റ്റ്‌വെയറിലേക്ക് ഇറക്കുമതി ചെയ്യുക, ഫ്ലാറ്റ്‌നെസ് ഫിറ്റ് ചെയ്യുന്നതിന് ഏറ്റവും കുറഞ്ഞ ചതുര രീതിയും മറ്റ് അൽഗോരിതങ്ങളും ഉപയോഗിക്കുക, ഫ്ലാറ്റ്‌നെസ് പിശക് റിപ്പോർട്ട് സൃഷ്ടിക്കുക, ഘടകത്തിന്റെ ഫ്ലാറ്റ്‌നെസ് സ്റ്റാൻഡേർഡ് അനുസരിച്ചാണോ എന്ന് വിലയിരുത്തുക.
3. CMM ന്റെ കണ്ടെത്തൽ പ്രക്രിയ:
◦ ഗ്രാനൈറ്റ് ഘടകം CMM വർക്ക് ടേബിളിൽ വയ്ക്കുക, അളക്കുന്ന സമയത്ത് ഘടകം സ്ഥാനഭ്രംശം സംഭവിക്കുന്നില്ലെന്ന് ഉറപ്പാക്കാൻ ഫിക്സ്ചർ ഉപയോഗിച്ച് അത് ഉറപ്പിക്കുക.
◦ ഘടകത്തിന്റെ ആകൃതിയും വലുപ്പവും അനുസരിച്ച്, അളക്കൽ പോയിന്റുകളുടെ വിതരണം നിർണ്ണയിക്കുന്നതിനായി അളക്കൽ സോഫ്റ്റ്‌വെയറിൽ അളവെടുപ്പ് പാത ആസൂത്രണം ചെയ്‌തിരിക്കുന്നു, പരിശോധിക്കേണ്ട തലത്തിന്റെ പൂർണ്ണ കവറേജും അളക്കൽ പോയിന്റുകളുടെ ഏകീകൃത വിതരണവും ഉറപ്പാക്കുന്നു.
◦ CMM ആരംഭിക്കുക, പ്ലാൻ ചെയ്ത പാത അനുസരിച്ച് അന്വേഷണം നീക്കുക, ഗ്രാനൈറ്റ് ഘടകം ഉപരിതല അളക്കൽ പോയിന്റുകളുമായി ബന്ധപ്പെടുക, ഓരോ പോയിന്റിന്റെയും കോർഡിനേറ്റ് ഡാറ്റ സ്വയമേവ ശേഖരിക്കുക.
◦ അളവ് പൂർത്തിയായ ശേഷം, അളവെടുപ്പ് സോഫ്റ്റ്‌വെയർ ശേഖരിച്ച കോർഡിനേറ്റ് ഡാറ്റ വിശകലനം ചെയ്യുകയും പ്രോസസ്സ് ചെയ്യുകയും ചെയ്യുന്നു, ഫ്ലാറ്റ്‌നെസ് പിശക് കണക്കാക്കുന്നു, ഒരു ടെസ്റ്റ് റിപ്പോർട്ട് സൃഷ്ടിക്കുന്നു, കൂടാതെ ഘടകത്തിന്റെ ഫ്ലാറ്റ്‌നെസ് മാനദണ്ഡം പാലിക്കുന്നുണ്ടോ എന്ന് നിർണ്ണയിക്കുന്നു.

If you have better advice or have any questions or need any further assistance, contact us freely: info@zhhimg.com